AFM dan ST. AFM mengacu pada Atomic Force Microscope dan STM mengacu pada Scanning Tunneling Microscope.
Perkembangan kedua mikroskop ini dianggap sebagai revolusi dalam bidang atom dan molekul.
Saat berbicara tentang AFM, ini menangkap gambar yang presisi dengan menggerakkan ujung berukuran nanometer di permukaan gambar. STM menangkap gambar menggunakan tunneling kuantum.
Dari kedua mikroskop tersebut, Scanning Tunneling Microscope merupakan yang pertama dikembangkan.
Berbeda dengan STM, probe melakukan kontak langsung dengan permukaan atau menghitung ikatan kimia yang baru jadi di AFM. Gambar STM secara tidak langsung dengan menghitung tunneling derajat kuantum antara probe dan sampel.
Perbedaan lain yang dapat dilihat yaitu ujung di AFM menyentuh permukaan dengan lembut menyentuh permukaan sedangkan di STM, ujungnya dijaga pada jarak pendek dari permukaan.
Berbeda dengan STM, AFM tidak mengukur arus tunneling tetapi hanya mengukur gaya kecil antara permukaan dan ujung. Terlihat juga bahwa resolusi AFM lebih baik daripada STM.
Inilah mengapa AFM banyak digunakan dalam teknologi nano.
Saat berbicara tentang ketergantungan antara gaya dan jarak, AFM lebih kompleks daripada STM. Ketika Mikroskop Tunneling Pemindaian biasanya berlaku untuk konduktor, Mikroskop Gaya Atom berlaku untuk konduktor dan isolator.
AFM cocok dengan lingkungan cair dan gas sedangkan STM hanya beroperasi dalam vakum tinggi.
Jika dibandingkan dengan STM, AFM memberikan pengukuran ketinggian langsung kontras topografi yang lebih banyak dan fitur permukaan yang lebih baik.
Ringkasan:
- AFM menangkap gambar yang presisi dengan menggerakkan ujung berukuran nanometer di seluruh permukaan gambar. STM menangkap gambar menggunakan tunneling kuantum.
- Probe melakukan kontak langsung dengan permukaan atau menghitung ikatan kimia yang baru jadi dalam AFM.
Gambar STM secara tidak langsung dengan menghitung tunneling derajat kuantum antara probe dan sampel.
- Ujung di AFM menyentuh permukaan dengan lembut menyentuh permukaan sedangkan di STM, ujungnya dijaga pada jarak pendek dari permukaan.
- Resolusi AFM lebih baik daripada STM.
Inilah mengapa AFM banyak digunakan dalam teknologi nano.
- Ketika Mikroskop Tunneling Pemindaian biasanya berlaku untuk konduktor, Mikroskop Gaya Atom berlaku untuk konduktor dan isolator.
- AFM cocok dengan lingkungan cair dan gas sedangkan STM hanya beroperasi dalam vakum tinggi.
- Dari kedua mikroskop tersebut, Scanning Tunneling Microscope adalah yang pertama kali dikembangkan.